联络我们 网站地图 课程报名
Language
正體中文 简体中文 English

微机电测试

HOME / 解决方案与服务 / 芯片测试解决方案 / 微机电测试

【AFORE】探针系统

【AFORE】探针系统
  • 专为微机电(MEMS)产品设计，实现客户在芯片级封装(CSP)的先进封装制程进行晶圆级的最终测试，简化生产制造流程，让客户的测试成本降到最低。
  • 提供MEMS测试全面性的产品，包括晶圆探针测试，多种激励方式和封装选项的测试机以及三温测试。
  • 使用Ring Frame方式进行测试，有别于传统Pick & Place，可避免组件损伤，提高生产效率。
 

【KRONOS 惯性传感器晶圆探针系统】

  • 可用于以下产品最终测试和校正：
  1. 加速度计
  2. 磁力计
  3. 陀螺仪
  4. 电子指南针
 

【AIOLOS 压力传感器测试系统】

  • 可用于以下产品最终测试和校正：
  1. 压力和真空侦测传感器
  2. 气体和湿度侦测传感器
  • 需要真空及其他大气环境下进行特征测试的电子器件
 

【MPP 集成多轴磁场仿真性能的多功能探针台】

  • 可用于以下产品最终测试和校正：
  1. 磁力计及其他半导体电子器件

 

 

AFORE Oy

芬兰商AFORE专注提供晶圆级(Wafer level)MEMS IC测试方案，提供low invest cost，和高UPH方案。AFORE已经得到众多国际知名MEMS厂商质量验证通过，可以实现加速计，陀螺仪，TPMS，环境和气体等不同的MEMS IC测试。为了提供Lab级研发和小批量测试，AFORE经过多年完成了实验室机台的METIS。